Квалификационные требования к участникам:

1.      Количество дней на устранение неисправностей, в случае возникновения внештатной ситуации - не менее 20 дней для трех электронных микроскопов, включая двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 PFIB, сканирующего электронного микроскопа Quattro S и просвечивающего электронного микроскопа Titan Themis Z.

2.      Инженеры должны иметь сервисную документацию от производителя:

Service Documentation TEM – 06 Mar 2022 – Themis Z (G3);

Service Documentation SDB SEM FIB – 14 Nov 2021 – Helios G4 PFIB;

Service Documentation SDB SEM FIB – 14 Nov 2021 – Quattro.

3.      Инженеры должны иметь сертификаты от производителя и поставщика оборудования на проведение соответствующего обслуживания оборудования:

• - Helios G4 PFIB: Сертификат «SEM/SDB Helios PFIB Delta»

• - Quattro S: Сертификат «SEM/SDB Basic Corrective Maintenance» Сертификат «SEM/SDB Introduction and Operate»

• - Themis Z: Сертификат «TEM Super-X G2 and G2 lite delta»

• - Сертификат «CM Basic»

• - Сертификат «CM STEM Accessories»

• - Сертификат «200/300kV»